Karakterizacija kontaktnih sočiva na bazi nanomaterijala pomoću nanoprob mikroskopa atomskih sila
Characterization of nanomaterial-based contact lenses by atomic force microscopy
2012
Аутори
Mileusnić, IvanaĐuričić, I.
Hut, Igor
Stamenković, Dragomir
Petrov, Ljubiša
Bojović, Božica
Koruga, Đuro
Чланак у часопису (Објављена верзија)
Метаподаци
Приказ свих података о документуАпстракт
U ovom radu predstavljeno je komparativno ispitivanje topografskih karakteristika potencijalnog novog, fotoničnog nanomaterijala za izradu kontaktnih sočiva i komercijalnog materijala kontaktnih sočiva. Ispitivanje je rađeno mikroskopijom atomskih sila (eng. Atomic Force Microscopy, AFM) koja omogućava uvid u površinske strukture ispitivanog materijala na nanonivou. Korišćen je mikroskop atomskih sila, SPM-5200, firme JEOL iz Japana. Za skeniranje površine uzorka AFM koristi posebno dizajnirane fizičke sonde koje se sastoje od šiljka postavljenog na mikronosač (kantilever). Skeniranje površine zasniva se na prevlačenju sonde po površini uzorka i praćenja njene deformacije u cilju dobijanja slika topografije. Sonda korišćena u ovom radu nosi naziv NCS18/Co-Cr i proizvod je firme MikroMasch (Estonija). NCS18/Co-Cr je silicijumska sonda, sa vrhom u obliku konusa. Silicijumski vrh obložen je prevlakom od legure kobalt-hroma. Bazni, komercijalni, materijal kontaktnih sočiva u osnovi je izra...đen od polimetilmetakrilata (PMMA), dok je fotonični nanomaterijal kombinacija baznog materijala i fulerena C60. Fulereni su upotrebljeni zbog njihovih dobrih transmisionih osobina u ultraljubičastom, vidljivom i bliskom infracrvenom spektru. Sva snimanja su obavljena na sobnoj temperaturi. Rezultati ispitivanja i komparacije topografije oba materijala prikazani su u radu.
In this paper the comparative studies were conducted of the surface areas of nanophotonic contact lens and contact lens made from base material, measured by Nanoprobe Atomic Force Microscope. Nanoprobe atomic force microscopy (AFM) provides information on the size structure on nano scale level, the form of recorded structures (cavities), their distribution of the surface, and the total roughness of the scanned area. The atomic force microscope used in this study is a SPM-5200 of JEOL, Japan. AFM consists of a cantilever with a sharp tip (probe) at its end that is used to scan the specimen surface. Images of the specimen surface are created by measuring the deflection of the cantilever. The cantilever used in this study is produced by MikroMasch (Estonia) by trade name NCS18/Co-Cr. This AFM probe is silicon etched probe tip that has conical shape. It is coated with Co and Cr layers. Images of surface topography were obtained for each type of contact lenses. The base material of contact ...lens was made from PMMA and the nanopho-tonic contact lens was made of fullerene doped PMMA. Fullerenes were used because of their good transitive characteristics in ultraviolet, visible and near infrared light spectrums. Measurements were done at room temperature. Results of topography for both materials are presented and compared.
Кључне речи:
PMMA / nanofotonično kontaktno sočivo / kantilever / fuleren / AFM / PMMA / Nanophotonic contact lens / Fullerene / Cantilever / AFMИзвор:
Contemporary materials, 2012, 3, 2, 177-183Финансирање / пројекти:
- Функционализација наноматеријала за добијање нове врсте контактних сочива и рану детекцију дијабетеса (RS-MESTD-Integrated and Interdisciplinary Research (IIR or III)-45009)
Институција/група
Inovacioni centarTY - JOUR AU - Mileusnić, Ivana AU - Đuričić, I. AU - Hut, Igor AU - Stamenković, Dragomir AU - Petrov, Ljubiša AU - Bojović, Božica AU - Koruga, Đuro PY - 2012 UR - https://machinery.mas.bg.ac.rs/handle/123456789/1416 AB - U ovom radu predstavljeno je komparativno ispitivanje topografskih karakteristika potencijalnog novog, fotoničnog nanomaterijala za izradu kontaktnih sočiva i komercijalnog materijala kontaktnih sočiva. Ispitivanje je rađeno mikroskopijom atomskih sila (eng. Atomic Force Microscopy, AFM) koja omogućava uvid u površinske strukture ispitivanog materijala na nanonivou. Korišćen je mikroskop atomskih sila, SPM-5200, firme JEOL iz Japana. Za skeniranje površine uzorka AFM koristi posebno dizajnirane fizičke sonde koje se sastoje od šiljka postavljenog na mikronosač (kantilever). Skeniranje površine zasniva se na prevlačenju sonde po površini uzorka i praćenja njene deformacije u cilju dobijanja slika topografije. Sonda korišćena u ovom radu nosi naziv NCS18/Co-Cr i proizvod je firme MikroMasch (Estonija). NCS18/Co-Cr je silicijumska sonda, sa vrhom u obliku konusa. Silicijumski vrh obložen je prevlakom od legure kobalt-hroma. Bazni, komercijalni, materijal kontaktnih sočiva u osnovi je izrađen od polimetilmetakrilata (PMMA), dok je fotonični nanomaterijal kombinacija baznog materijala i fulerena C60. Fulereni su upotrebljeni zbog njihovih dobrih transmisionih osobina u ultraljubičastom, vidljivom i bliskom infracrvenom spektru. Sva snimanja su obavljena na sobnoj temperaturi. Rezultati ispitivanja i komparacije topografije oba materijala prikazani su u radu. AB - In this paper the comparative studies were conducted of the surface areas of nanophotonic contact lens and contact lens made from base material, measured by Nanoprobe Atomic Force Microscope. Nanoprobe atomic force microscopy (AFM) provides information on the size structure on nano scale level, the form of recorded structures (cavities), their distribution of the surface, and the total roughness of the scanned area. The atomic force microscope used in this study is a SPM-5200 of JEOL, Japan. AFM consists of a cantilever with a sharp tip (probe) at its end that is used to scan the specimen surface. Images of the specimen surface are created by measuring the deflection of the cantilever. The cantilever used in this study is produced by MikroMasch (Estonia) by trade name NCS18/Co-Cr. This AFM probe is silicon etched probe tip that has conical shape. It is coated with Co and Cr layers. Images of surface topography were obtained for each type of contact lenses. The base material of contact lens was made from PMMA and the nanopho-tonic contact lens was made of fullerene doped PMMA. Fullerenes were used because of their good transitive characteristics in ultraviolet, visible and near infrared light spectrums. Measurements were done at room temperature. Results of topography for both materials are presented and compared. T2 - Contemporary materials T1 - Karakterizacija kontaktnih sočiva na bazi nanomaterijala pomoću nanoprob mikroskopa atomskih sila T1 - Characterization of nanomaterial-based contact lenses by atomic force microscopy EP - 183 IS - 2 SP - 177 VL - 3 DO - 10.7251/COMEN1202177M ER -
@article{ author = "Mileusnić, Ivana and Đuričić, I. and Hut, Igor and Stamenković, Dragomir and Petrov, Ljubiša and Bojović, Božica and Koruga, Đuro", year = "2012", abstract = "U ovom radu predstavljeno je komparativno ispitivanje topografskih karakteristika potencijalnog novog, fotoničnog nanomaterijala za izradu kontaktnih sočiva i komercijalnog materijala kontaktnih sočiva. Ispitivanje je rađeno mikroskopijom atomskih sila (eng. Atomic Force Microscopy, AFM) koja omogućava uvid u površinske strukture ispitivanog materijala na nanonivou. Korišćen je mikroskop atomskih sila, SPM-5200, firme JEOL iz Japana. Za skeniranje površine uzorka AFM koristi posebno dizajnirane fizičke sonde koje se sastoje od šiljka postavljenog na mikronosač (kantilever). Skeniranje površine zasniva se na prevlačenju sonde po površini uzorka i praćenja njene deformacije u cilju dobijanja slika topografije. Sonda korišćena u ovom radu nosi naziv NCS18/Co-Cr i proizvod je firme MikroMasch (Estonija). NCS18/Co-Cr je silicijumska sonda, sa vrhom u obliku konusa. Silicijumski vrh obložen je prevlakom od legure kobalt-hroma. Bazni, komercijalni, materijal kontaktnih sočiva u osnovi je izrađen od polimetilmetakrilata (PMMA), dok je fotonični nanomaterijal kombinacija baznog materijala i fulerena C60. Fulereni su upotrebljeni zbog njihovih dobrih transmisionih osobina u ultraljubičastom, vidljivom i bliskom infracrvenom spektru. Sva snimanja su obavljena na sobnoj temperaturi. Rezultati ispitivanja i komparacije topografije oba materijala prikazani su u radu., In this paper the comparative studies were conducted of the surface areas of nanophotonic contact lens and contact lens made from base material, measured by Nanoprobe Atomic Force Microscope. Nanoprobe atomic force microscopy (AFM) provides information on the size structure on nano scale level, the form of recorded structures (cavities), their distribution of the surface, and the total roughness of the scanned area. The atomic force microscope used in this study is a SPM-5200 of JEOL, Japan. AFM consists of a cantilever with a sharp tip (probe) at its end that is used to scan the specimen surface. Images of the specimen surface are created by measuring the deflection of the cantilever. The cantilever used in this study is produced by MikroMasch (Estonia) by trade name NCS18/Co-Cr. This AFM probe is silicon etched probe tip that has conical shape. It is coated with Co and Cr layers. Images of surface topography were obtained for each type of contact lenses. The base material of contact lens was made from PMMA and the nanopho-tonic contact lens was made of fullerene doped PMMA. Fullerenes were used because of their good transitive characteristics in ultraviolet, visible and near infrared light spectrums. Measurements were done at room temperature. Results of topography for both materials are presented and compared.", journal = "Contemporary materials", title = "Karakterizacija kontaktnih sočiva na bazi nanomaterijala pomoću nanoprob mikroskopa atomskih sila, Characterization of nanomaterial-based contact lenses by atomic force microscopy", pages = "183-177", number = "2", volume = "3", doi = "10.7251/COMEN1202177M" }
Mileusnić, I., Đuričić, I., Hut, I., Stamenković, D., Petrov, L., Bojović, B.,& Koruga, Đ.. (2012). Karakterizacija kontaktnih sočiva na bazi nanomaterijala pomoću nanoprob mikroskopa atomskih sila. in Contemporary materials, 3(2), 177-183. https://doi.org/10.7251/COMEN1202177M
Mileusnić I, Đuričić I, Hut I, Stamenković D, Petrov L, Bojović B, Koruga Đ. Karakterizacija kontaktnih sočiva na bazi nanomaterijala pomoću nanoprob mikroskopa atomskih sila. in Contemporary materials. 2012;3(2):177-183. doi:10.7251/COMEN1202177M .
Mileusnić, Ivana, Đuričić, I., Hut, Igor, Stamenković, Dragomir, Petrov, Ljubiša, Bojović, Božica, Koruga, Đuro, "Karakterizacija kontaktnih sočiva na bazi nanomaterijala pomoću nanoprob mikroskopa atomskih sila" in Contemporary materials, 3, no. 2 (2012):177-183, https://doi.org/10.7251/COMEN1202177M . .